Die Kompakttester der Gerätefamilie NPA von Rohde&Schwarz ermglichen eine DC- und AC-Last- sowie eine Standby-Strom-Charakterisierung ohne PC-Software oder Remote-Infrastruktur.
Zuverlässige Durchkontaktierung ist ein Schlüssel zum Erfolg bei anspruchsvollen Leiterplatten-Prototypen. Die neue LPKF Contac S4 vereint verschiedene galvanische und chemische Prozesse auf in einem kompakten Sicherheitsgehäuse!
